Заглянуть в нанообъекты разрешили всем желающим
К наноматериалам относят объекты размером менее 100 нанометров (0,0001 миллиметра), каковые, в зависимости от числа сторон, превышающих нанодиапазон, имеют мерность от нуля до трех. Благодаря облегченной миграции атомов и повышению объемной доли границ раздела в наноструктурном состоянии материалы смогут владеть неповторимыми физико-химическими особенностями (высокой электропроводностью, прочностью, легкостью), что делает их создание перспективным для широкого круга приложений, к примеру медицины и электроники. Одновременно с этим производство наноматериалов ограничивается нестабильностью и дороговизной получения конечного продукта.
Помимо этого, оценка трехмерной структуры нанообъектов сопряжена с известными трудностями. Для ее изучения употребляются просвечивающая электронная и сканирующая зондовая микроскопия: на протяжении работы пучки электронов пропускаются через наночастицы под различными углами, по окончании чего компьютерный метод формирует проекции светотеневых границ.
Предстоящая реконструкция изображения, а также цветовое выделение атрибутов, выполняется учеными в полуавтоматическом режиме посредством проприетарного ПО. отсутствие и Сложность процедуры бесплатных программ часто мешает обмену данными между исследовательскими группами.
Дабы восполнить пробел, американские эксперты создали открытую платформу Tomviz. Программа разрешает загружать и просматривать трехмерные изображения нанообъектов в количества и на поверхности при помощи графического интерфейса. Она кроме этого содержит последовательность инструментов для обработки файлов, а также создания анимации, видео, поворотов и нарезки.
Полученные эти смогут быть отображены в окне платформы в виде гистограмм и проанализированы посредством статистического модуля, фильтров и скриптов на Python. Сервис поддерживает операционные совокупности Windows 7 и Linux, и macOS (10.10+) с количеством оперативной памяти от восьми гигабайт.
Tomviz стала результатом работы междисциплинарной группы исследователей. Участие в создании платформы кроме этого приняли специалисты Национальной лаборатории имени Лоуренса в Беркли и Калифорнийского университета в Лос-Анджелесе. Конкретно написанием программы занимались сотрудники нью-йоркского разработчика сервисов с открытым исходным кодом Kitware.
Сообщается, что в новых обновлениях сервис будет доработан для интеграции с различными техниками микроскопии, в частности зондовой (на данный момент он вычислен лишь на снимки, сделанные просвечивающим электронным микроскопом). Это окажет помощь раскрыть все подробности атомарной структуры наноматериалов, уверены разработчики.
Об изучении по информации портала Мичиганского университета. Скачать платформу Tomviz в версии 1.0 возможно на сайте проекта.
Подробнее о мире наноматериалов просматривайте в отечественной статье.
Видеосюжет о проекте / ©University of Michigan